5月18日，应我校物理与电子工程学院邀请，上海电力学院刘勇副教授在科学校区四教楼405会议室为物理与电子工程学院师生做了题为“基于光学相干层析的玻璃面板缺陷检测技术”的讲座。
刘勇副教授从玻璃面板缺陷检测的研究背景出发，重点介绍OCT技术的基本概念， 阐述TD-OCT、SD-OCT和SS-OCT技术的基本原理和特征，说明基于SD-OCT的玻璃面板缺陷检测技术的可行性和存在问题，展望OCT技术在玻璃面板及其他材料缺陷检测中的应用及高性能方面的进展。刘教授鲜明生动深入浅出的讲解，受到了物理与电子工程学院教师的一致好评。
OCT无损检测技术是刘勇副教授多年来潜心研究的重要成果，本次学术交流使我院教师了解到OCT无损检测技术的最新研究成果动态，有助于进一步开阔其学术视野。
专家简介：
刘勇，中国光学学会高级会员，中国光学工程学会会员。浙江大学光电信息工程系博士后，曾先后赴台湾阳明大学、University of South Carolina访问研究，长期从事光学相干层析成像和光电检测技术的研究工作，目前已在J.Opt，Opt.Commun等国内外重要学术期刊发表学术论文20余篇，授权专利2项，主持参与过国家重大基础研究发展计划、国家自然科学基金项目和上海市自然科学基金等多个项目。