12月26日下午，物理与电子工程学院陈镇平教授在东一楼301会议室作了题为“正电子湮没技术及其应用”的学术报告，我院相关专业的教师参加了此次报告会。
陈镇平教授首先从正电子湮没技术的特点作为切入点，深入浅出地讲解了正电子湮没技术在材料缺陷探测方面的优点及应用。然后结合自己的研究课题及取得的结果，详细介绍了正电子寿命谱、符合多普勒展宽谱和角动量谱等测试手段的特点及应用范围，并鼓励广大专业教师在以后的研究中多利用正电子寿命谱仪进行材料缺陷测试和研究。最后，陈教授就相关问题与其他教师进行了热烈的讨论。
